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            力學樣品臺的詳細介紹

            點擊次數:581 發布時間:2021-04-19
              SEM力學樣品臺是在標準樣品臺的基礎上設計力學控制模塊和控制單元。該系統采用感應微壓頭,在掃描電鏡內可直接觀察納米機械測試,不僅可以對納米材料進行機械擠壓的成像,而且同時可以獲取載荷-位移數據。

              在使用SEM力學樣品臺實驗時,用戶選擇Push-to-Pull模塊可實現樣品拉伸實驗,或者選擇加熱模塊可實現熱場和力場耦合實驗,加熱模塊可選搭載push-to-pull模塊的程序升溫方式(RT-1000℃,1K),或者選擇加電模塊(*大電壓±50V,電流范圍: pA~mA )。SEM力學樣品臺可以應用的范圍有:

              1、材料力學研究
              
            (1)力和位移瞬態效應相關材料的研究

              (2)位錯卒發研究

              (3)應力下的晶相轉變研究

              (4)納米線、納米球的力學測試,剪切帶或者斷裂發生

              (5)材料失效分析

              2、材料力學測試
              
            (1)壓痕測試

              (2)拉伸測試(配拉伸臺)

              (3)納米壓痕測試

              (4)納米劃痕測試

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