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            原位TEM力學加熱樣品臺

            原位TEM力學加熱樣品臺

            更新時間:2021-07-27

            產品型號:

            產品報價:

            產品特點:原位TEM力學加熱樣品臺上的MEMS(微機電系統)力學芯片可外接力學控制器,在透射電鏡內可動態實時觀察樣品材料微結構的變化。通過實時獲取的載荷、形變等數據,以及透射電子顯微鏡所提供的材料微結構變化數據,實現了定量分析材料的微觀力學性質、相變行為、取向變化、裂紋形成和擴展、材料疲勞和斷裂機制、加速蠕變、分層、形成滑移面以及脫落等現象。該原位力學系統穩定性好,經過科學設計,實現漂移率最小化。

            原位TEM力學加熱樣品臺的詳細資料:

            原位TEM力學加熱樣品臺

            ●最大載荷:100 mN;

            ●實時自動獲取保存載荷-位移曲線數據;

            ●無需復合、動態校準即可進行力學測量;

            ●Push to Pull模塊可實現樣品的拉伸實驗;

            ●獨特的一體化設計,粗調和細調過程均可進行遠程軟件操控;

            ●圖像自動校正系統對目標樣品進行實時鎖定,便于捕獲樣品在反應過程中的關鍵信息;

            ●可擴展溫控(RT-1300℃,±0.01℃)、電學模塊(pA-mA,普通模式±10 V, 高壓模式±200 V)。


            原位TEM力學加熱樣品臺上的MEMS(微機電系統)力學芯片可外接力學控制器,在透射電鏡內 可動態實時觀察樣品材料微結構的變化。通過實時獲取的載荷、形變等數據,以 及透射電子顯微鏡所提供的材料微結構變化數據,實現了定量分析材料的微觀力 學性質、相變行為、取向變化、裂紋形成和擴展、材料疲勞和斷裂機制、加速蠕 變、分層、形成滑移面以及脫落等現象。該原位力學系統穩定性好,經過科學設 計,實現漂移率最小化。


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